在片式多層元器件類型中，ESR（Res）主要由介質層電阻、內電極層電阻、各接觸面電阻和端電極電阻等四個方面組成；其中各接觸面電阻包括端電極與內電極的接觸，不同的端電極電鍍層間的接觸等；Res對頻率是較為敏感的，并隨頻率的增加而增加，因為：

　　1、接觸電阻－電極間接觸形成的間隙式裂縫是容性阻抗(Z=1/(2*pi*f*C)),從而導致Res在剛開始時隨頻率的增加而下降。

　　2、趨膚效應－內電極和端電極由于趨膚效應，阻抗隨頻率的增加而增加，最終將抵消接觸電阻所產生ESR下降的影響。

　　3、電介質極化－隨電介質中的極化定向，大量的能量被儲備，從而呈現阻抗隨頻率增大而增大。

　　1、內電極層自身電阻：

　　內電極層可以認為是一個給定厚度、長寬參數的金屬平面薄板，因此其自身電阻取決與L/W的比例，但由于是通過涂抹工藝（絲網疊印）制成，它有著不太規則的厚度及一些空洞區域等缺陷，這些空洞區域在低頻時呈現的高阻特性，而當頻率增大，在中間夾雜介質的分流作用下（容抗），減小了整個器件的阻抗。但隨著頻率進一步增加，到較高頻時，出現趨膚效應，導致呈現的阻抗增加。

　　2、接觸電阻：

　　從微觀角度看，任何光滑的表面都是凹凸不平的，因此，兩個接點接觸時，不可能是整個接觸面接觸，而是有限點的接觸，差異取決于表面光滑程度和接觸壓力的大小。

　　真正的接觸電阻包括：

　　集中電阻——電流通過接觸面，由于接觸面縮小而導致電流線收縮所顯示的電阻，通常稱為集中電阻；

　　界面電阻——由于接觸表面所形成膜層而構成的膜層電阻或稱界面電阻。

　　3、介質層電阻：

　　在電場中，介質分子極化過程中要損耗一些能量。它的大小主要受介質常數K和環境溫度的影響。

　　4、端電極自身電阻：

　　影響很小，一般可以省略不考慮。